包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測(cè)儀符合BB/T0030《包裝用鍍鋁薄膜》中相關(guān)要求，其中鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度遵循GB/T15717中真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法（電阻法）中鍍厚度要求。

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更新時(shí)間：2025-10-29

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薄膜類測(cè)試儀

透光率霧度測(cè)定儀提袋疲勞次數(shù)測(cè)試儀杯覆膜撕開力測(cè)試儀直角撕裂強(qiáng)度測(cè)試儀金屬鍍層厚度測(cè)試儀鍍鋁層厚度測(cè)定儀遷移池熱收縮測(cè)試儀封口熱合強(qiáng)度試驗(yàn)儀薄膜厚度測(cè)試儀撕裂度測(cè)試儀擺錘沖擊試驗(yàn)儀自由落鏢沖擊試驗(yàn)機(jī) 薄膜剝離強(qiáng)度測(cè)試儀穿刺力測(cè)定儀圓盤剝離試驗(yàn)機(jī) 拉伸強(qiáng)度測(cè)試儀

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包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測(cè)儀

包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度測(cè)試儀DMT-S

包裝用鍍鋁薄膜，在復(fù)合包裝中的應(yīng)用十分廣泛，主要應(yīng)用于餅干等干燥、膨化食品包裝以及一些醫(yī)藥、化妝品的外包裝上。目前應(yīng)用zui多的鍍鋁薄膜主要有聚酯鍍鋁膜（VMPET）和CPP 鍍鋁膜（VMCPP）。

包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測(cè)儀 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 15717《真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法---電阻法》

BB/T0030-2004 《包裝用鍍鋁薄膜》

包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測(cè)儀測(cè)試原理：

試樣金屬鍍層為一金屬導(dǎo)體，根據(jù)歐姆定律測(cè)量規(guī)定長(zhǎng)度和寬度的試樣的電阻值，計(jì)算其方塊電阻值，從而得出鍍層厚度。

包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測(cè)儀

鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測(cè)儀

薄膜鍍鋁層厚度檢測(cè)儀測(cè)試方法：

依據(jù)國(guó)家包裝產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心（濟(jì)南）起草的《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》于1996年頒布，詳細(xì)介紹了如何檢測(cè)絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度的測(cè)試方法。電阻法檢測(cè)鍍鋁層的厚度用表面電阻來表示，單位是Ω/□，數(shù)值越大說明鍍鋁層厚度越薄，一般真空鍍鋁薄膜的表面電阻值為1.0－2.5Ω/□。

薄膜鍍鋁層厚度檢測(cè)儀 主要參數(shù)
厚度測(cè)量范圍：厚度50-570?
方塊電阻測(cè)量范圍：0.5-10Ω
方塊電阻測(cè)量誤差：±1%
樣品尺寸：100×100mm
夾樣誤差：±0.1mm
測(cè)溫范圍：0～50℃，精度±1℃
外形尺寸：370mm×330mm×450mm （長(zhǎng)寬高）
重量：19kg

包裝用鍍鋁薄膜鍍鋁層厚度檢測(cè)儀